射频探针是一种用于与射频电路或器件进行物理接触，以实现信号传输和测量的精密装置。它通常由探针头、传输线和连接器等部分组成。探针头是与被测对象直接接触的部分，其形状和尺寸经过精心设计，以确保良好的电气接触和信号干扰；传输线负责将探针头采集到的射频信号传输到测试仪器；连接器则用于将射频探针与测试仪器或其他设备连接起来，实现信号的稳定传输。
射频探针的工作原理基于电磁场的相互作用。当探针头与被测射频电路或器件接触时，会在接触点处形成一个微小的电磁场耦合区域。在这个区域内，射频信号的电场和磁场分量会与探针头产生相互作用，从而在探针头中感应出相应的电信号。这个电信号通过传输线传输到测试仪器后，经过放大、滤波、分析等处理，就可以得到被测射频信号的各种参数，如频率、幅度、相位等。
以在集成电路测试中的应用为例，探针头会准确地接触到集成电路上的射频信号引脚，将引脚上的微弱射频信号采集出来，并通过传输线传输到频谱分析仪或网络分析仪等测试设备中。测试设备对采集到的信号进行分析和处理，从而评估集成电路的射频性能，如增益、带宽、噪声系数等。
射频探针的分类：
(一)按接触方式分类
弹性接触式探针的探针头通常采用弹性材料制成，如铍铜、磷青铜等。在接触被测对象时，弹性探针头能够产生一定的弹性变形，从而保证与被测表面的良好接触，减少接触电阻和信号反射。弹性接触式具有接触可靠、使用寿命长等优点，广泛应用于集成电路测试、印刷电路板测试等领域。
垂直接触式的探针头与被测表面垂直接触，其结构简单，制造精度高。这种探针适用于对接触精度要求较高的测试场景，如高频晶体振荡器测试、微波集成电路测试等。垂直接触式射频探针能够提供稳定的电气连接，减少信号损耗和干扰。
(二)按频率范围分类
低频一般适用于频率范围在几十千赫兹到几百兆赫兹的射频信号测试。这类探针的设计重点在于保证信号的低损耗传输和良好的电气接触，通常采用较大的探针头尺寸和较粗的传输线，以降低电阻和电感对信号的影响。
高频射频探针用于测试频率在几百兆赫兹到几十吉赫兹甚至更高频段的射频信号。随着频率的升高，信号的波长变短，对探针的设计和制造要求也更加严格。需要采用特殊的材料和结构，以减小信号的传输损耗、反射和串扰。
