是德科技功率器件分析仪B1506A提供完整的电路设计解决方案，实现对车规级大功率半导体的高效安全的测试验证。

高功率脉冲PIV测试系统，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高级测量和建模软件支持多种负载牵引技术，包括使用外部仪器的传统负载牵引、基于VNA的负载牵引、主动负载牵引和混合负载牵。

SPAD光学传感器测试设备,光感测器量子效率测量仪， 为了能更好的应用在移动设备上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。 但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高。 在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准检测的挑战。 我们采用与从不同的光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。

Keysight B1500A半导体测试设备, 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 模块化体系结构可以根据需要灵活升级。半导体器件参数分析仪

PNA-X 脉冲网络仪使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以获得功能和性能（频率高达 120 GHz，通过频率扩展器可以进一步扩展到 1.5 THz）。

· 拥有最多信号发生器的型号可供选择，并且每个型号的性能都同类产品，因此无论您需要可追溯的计量级解决方案，还是需要经济高效的基础型信号发生器，是德科技信号发生器都可以满足您的需求。信号发生器（信号源）

· 使用各种硬件平台满足不断变化的测试需求—无论是研发领域追求的最高性能，还是制造环节恰到好处的性能 · 利用业界*泛的特定频谱分析软件，实施更深入的故障诊断或一键式测量 频谱仪

是德高性能任意波形发生器使用低噪声时钟，可以提供性能和高质量的信号生成，以实现信号保真度。无论您需要台式设备或者直接在系统中应用的 AXIe、LXI 或 PXI 模块化设备，是德高性能任意波形发生都可以提供干净但复杂的真实信号。先进的排序功能可以优化存储器，以仿真持续时间较长的事件。是德任意波形发生以为您提供信号生成功能，满足众多应用需求。