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头条防止静电伤害:晶圆ESD测试机操作中的安全措施2025-3-7
在半导体制造过程中,静电放电(ESD)是一种潜在的风险,可能对晶圆、设备和人员安全造成严重影响。晶圆ESD测试机作为测试和验证半导体器件的工具,必须采取有效的安全措施,以...2026
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10-10探针台故障速查:定位失准、接触不良与成像模糊的30分钟解决指南
一、定位失准:快速排查与修复现象:探针无法准确接触晶圆或芯片的测试点,导致测试数据异常。1.机械结构检查(5分钟)X...
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