探针台制造商,GP200探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在短时间内准确地完成测试要求。 提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

8英寸手动探针台,射频探针台,高压探针台,MPI 8英寸射频高低温手动探针台具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽，并允许进行低噪声的器件在片测量，从而可广泛用于各种应用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片级可靠性，故障分析，设计验证，和大功率。

高压探针台通过TS2000-DP，MPI提供了一个多功能且经济高效的探针台，半自动|MPI 8英寸高压探针台适用于20°C至300°C温度范围内的晶圆上高功率器件测量，测量能力高达3 kV（三轴）/ 10 kV（同轴）和600 A（脉冲）。

射频探针台,12英寸全自动射频探针台设计有五个单独的托盘，可按人体工学方式手动装载150、200或300毫米的“模型”晶圆。

全自动| FAB厂生产线常用探针台采用新开发的专有XY驱动系统，实现了高速，低振动。

全自动探针台,FAB厂生产线常用探针台采用新开发的专有XY驱动系统，实现了高速，低振动。$n与现有产品相比，考虑到环境因设计变化而实现的占地面积小，功耗降低10％

高功率探针台,半自动探针台用于在宽 -60°C 至 +300°C 的温度范围和宽 3 kV （三轴） / 10 kV （同轴） 和 600 A 测量范围的晶圆#HighPower 对高功率芯片特性进行测试。系统可以选择在薄晶片或TAIKO晶圆上进行测试。半自动高功率探针台|

闭循环低温探针台-