晶圆 2D/3D AOI 检验显微镜进料的wafer，经过正反面目检和显微镜正面micro检查，进行检查和分选。操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer。

公司已经与多家世界的半导体器件和精密测试领域的品牌厂商签订合作。这些品牌包括：切割机，探针台系统制造商MPI；世界微波组件和测试系统制造商MAURY；测量仪器制造商KEYSIGHT；的模型服务商Modelithics；EDS设备日本 HANWA和TOTOKU等。

凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体测试系统解决方案。YXLON X射线检测机被设计用于为SMT，半导体和实验室封装应用领域提供同级别产品中优良的检测解决方案。通过优异软伯和硬件，欧洲进口X射线检测系统/EVO系统有比同类更高品质且可重复的结果。 检测类别：SMT和PTH封装、印刷电路板、IGBT、晶圆检测、三维集成电路、传感器、MEMS和MOEMS,TSV。

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