在高频集成电路（如5G射频前端、毫米波雷达、功率放大器等）的研发与量产中，射频探针台作为连接被测器件（DUT）与矢量网络分析仪（VNA）的关键接口平台，其测量精度直接决定器件建模、参数提取和良率判断的可靠性。而校准是消除测试系统误差、实现可溯源高精度S参数测量的核心环节。现代射频探针台通常支持多种校准方式，用户需根据频率范围、测试结构、精度需求及自动化程度进行合理选择。一、SOLT校准SOLT是经典、应用广泛的二端口校准方法，适用于同轴连接或标准微带线结构。在探针台场景中，需...

国产探针台作为一种精密测试设备，广泛应用于半导体、电子元器件等领域的测试与测量。然而，为了确保探针能够精准接触到被测样品，初始调校与定位是至关重要的一步。本文将详细介绍如何对国产探针台进行调校与定位。1.准备工作在进行任何调校与定位之前，首先需要做好充分的准备工作：检查设备状态：确保探针台已正确连接电源，并且没有明显的物理损坏。清理工作环境：保持测试环境的整洁，确保工作台面没有杂物，以防止外界干扰。准备必要工具：如螺丝刀、水平仪、显微镜等辅助工具，帮助完成调校过程。2.调校步...

高低温探针台使用时需要将待测试的样品放置在的加热和冷却组件上，确保样品处于合适的位置以便后续操作，启动加热系统，按照设定的程序将样品加热到所需的高温；或者启动制冷系统，使冷却组件降温至规定的低温。温度控制系统通常采用液氮或液氦制冷结合电加热的方式，可实现较宽范围的准确调控，如从4K至500K甚至更高的温度区间。利用精密的探针定位系统，调整探针的位置，使其与样品上的特定测试点(如芯片的焊盘等)实现微米级精度的可靠接触。这样，测量系统就能通过探针向样品输入电信号，并接收来自样品的...

射频探针是一种用于与射频电路或器件进行物理接触，以实现信号传输和测量的精密装置。它通常由探针头、传输线和连接器等部分组成。探针头是与被测对象直接接触的部分，其形状和尺寸经过精心设计，以确保良好的电气接触和信号干扰；传输线负责将探针头采集到的射频信号传输到测试仪器；连接器则用于将射频探针与测试仪器或其他设备连接起来，实现信号的稳定传输。射频探针的工作原理基于电磁场的相互作用。当探针头与被测射频电路或器件接触时，会在接触点处形成一个微小的电磁场耦合区域。在这个区域内，射频信号的电...

在半导体制造过程中，静电放电（ESD）是一种潜在的风险，可能对晶圆、设备和人员安全造成严重影响。晶圆ESD测试机作为测试和验证半导体器件的工具，必须采取有效的安全措施，以防止静电伤害和设备损坏。本文将探讨在晶圆ESD测试机操作中应遵循的安全措施。一、静电放电的危害静电放电可能对晶圆表面产生破坏性影响，导致电路短路、损坏或性能不稳定。此外，静电放电不仅会影响产品质量，还可能损坏敏感设备，造成生产停滞。因此，保护晶圆和设备免受静电损害是操作过程中至关重要的一环。二、人员防护措施操...

在半导体制造领域，确保器件的可靠性和性能至关重要。TLP传输线脉冲测试仪凭借其优势，成为半导体制造过程中的重要工具，在多个关键环节发挥着重要作用。在半导体芯片设计阶段，TLP传输线脉冲测试仪助力优化ESD（静电放电）保护设计。ESD是半导体器件面临的重大威胁，可能在瞬间造成器件永久性损坏。TLP测试仪通过产生精准模拟实际ESD事件的脉冲信号，施加到设计的芯片样本上。工程师借助测试仪精确测量芯片在脉冲作用下的电流、电压变化，深入分析ESD保护结构的响应特性。依据这些数据，能够找...

在半导体行业飞速发展的今天，芯片设计越来越复杂，测试难度也随之增加。高功率探针台作为集成电路生产线上关键的一环，承担着验证产品电气特性的重要任务。然而，“盲目探测”不仅浪费资源，还可能导致样品损坏甚至测试失效。本文旨在分享有效策略，助您驾驭高功率探针台，实现精准、高效的测试。一、理解您的需求首先，明确您的测试目标是什么。是需要高电流测试，还是高频响应？或是特定的电压范围？不同的芯片类型（如功率器件、射频芯片等）有不同的测试需求。选择合适配置的探针台至关重要。二、精心挑选探针卡...

大功率探针台是半导体、集成电路、光电器件测试领域中一种专门用于承载和测试大电流、高电压器件的专业设备。它的设计目的是为了能够在不破坏待测元件的情况下，对其进行精准的电气特性测试，比如功率晶体管、LED、激光二极管等。大功率探针台，在使用过程中确实存在一些安全隐患，特别是当涉及到高电压、大电流的测试环境时，必须采取严格的预防措施以保障人身安全及设备完好。以下列举了几种常见隐患及其防范策略：一、高电压风险防范措施：1.绝缘防护：穿戴绝缘手套、绝缘鞋，使用带有绝缘层的工具。2.隔离...